薄膜測量
該系統為單層膜測量提供了所需的測量工具，包括反射探頭和支架，可以測量的膜層厚度從 10 nm 到 50μm， 分辨率可達 1 nm，測量范圍從紫外 / 可 見到近紅外（200-1100 nm）。
典型應用領域
- 半導體工業
- 太陽能電池板
- 鍍膜
訂購信息
AvaSpec—Thin Film
光譜儀 | AvaSpec-ULS2048CL-EVO | Grating UA (200-1100nm) OSC-UA |
光源 | Avalight-DHc | PS-12V/1.0A |
光纖 | FCR-7UVIR200-2-ME | |
附件 | THINFILM-STAGE 支架和標準板 | |